Биология - Дифракция отражённых электронов - Трехмерное картирование с использованием сфокусированного ионного пучка

09 февраля 2011


Оглавление:
1. Дифракция отражённых электронов
2. Применение
3. Картирование кристаллографических ориентаций
4. Трехмерное картирование с использованием сфокусированного ионного пучка
5. Изучение текстуры и межзёренных границ



Существует несколько методик получения трехмерных карт с использованием СИП. Общим для них является последовательное снятие слоев вещества с помощью сфокусированного ионного пучка и последующего картирования полученной области образца. Современные программные пакеты позволяют проводить такие исследования в практически автоматическом режиме. Полученные данные позволяют говорить о характере взаимрасположения, форме и т.д. частей исследуемого вещества. Минусом является огромнейший объём данных, малый физический объём исследуемого образца, а также деструкционная природа эксперимента. Однако такого рода информация не может быть получена другими методами анализа. Отдельным вопросом стоит собственно реконструкция трехмерного объема материала.

В реализации Oxford Instruments присутствует возможность коррекции дрейфа во время набора карты.



Просмотров: 11008


<<< Ближнепольная оптическая микроскопия
Иммерсия (микроскопия) >>>